本系統(tǒng)適用于各類(lèi)射頻器件高溫、常溫和低溫下的性能測(cè)試，具備S參數(shù)測(cè)試、線(xiàn)性度測(cè)試、電源測(cè)試、噪聲系數(shù)測(cè)試、相位噪聲測(cè)試、矢量信號(hào)測(cè)試和射頻時(shí)序測(cè)試功能。硬件上通過(guò)開(kāi)關(guān)矩陣實(shí)現(xiàn)各種儀器、儀表的信號(hào)切換，軟件上通過(guò)高精度快速測(cè)量算法、非理想負(fù)載校正算法、動(dòng)態(tài)范圍擴(kuò)展算法實(shí)現(xiàn)無(wú)人員干預(yù)下全自動(dòng)測(cè)試。本系統(tǒng)還具備了測(cè)試單元模組化、測(cè)試方案集成化和測(cè)試流程一體化的特點(diǎn)，以及載具修正、參數(shù)補(bǔ)償、儀表性能擴(kuò)展等多項(xiàng)技術(shù)，可全面提高測(cè)試精度和效率。
引用標(biāo)準(zhǔn)：SEMI SECS/GEM相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
Standards referenced：SEMI SECS/GEM related.
適用器件：濾波器、放大器、耦合器等射頻器件
Applicable device：Radiofrequency devices likeWave filters, signal amplifiers, couplers, etc.
適用行業(yè)：軍工電子、汽車(chē)電子、車(chē)軌交通、消費(fèi)電子、半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、封測(cè)企業(yè)...
Applicable industry：Military electronics、automotive electronics、consumer electronics、rail traffic、semiconductor device design、packaging and testing enterprises
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