近日,201所與杭州三海電子科技股份有限公司在蘇州成功舉辦了第三代半導體可靠性試驗及失效分析技術聯(lián)合創(chuàng)新中心揭牌儀式暨成果轉(zhuǎn)化簽約會。中國工程院院士王自力,先進技術成果長三角轉(zhuǎn)化中心主任張杰、副主任袁宇,蘇州工業(yè)園區(qū)經(jīng)發(fā)委副主任趙啟亮、國動處處長張培琦、產(chǎn)業(yè)一處毛圣澤、招商一處檀竹彪受邀出席了會議。201所所長李宏民、副所長王海林,杭州三海電子科技股份有限公司董事長卓玲佳、副總經(jīng)理唐環(huán)等作為簽約雙方代表出席了會議。
近年來,基于第三代半導體器件大規(guī)模應用帶來的可靠性試驗以及失效分析技術是熱點技術方向,相關領域的檢測及試驗設備需求量持續(xù)增加,市場規(guī)模不斷擴大。三??萍甲鳛樾袠I(yè)內(nèi)的龍頭企業(yè),有著較強的科研能力以及顯著的市場優(yōu)勢,雙方將圍繞第三代半導體可靠性試驗、失效分析、設備研發(fā)等方面開展合作,充分發(fā)揮各自優(yōu)勢,在科研創(chuàng)新、成果轉(zhuǎn)化、市場營銷、產(chǎn)業(yè)推廣等領域?qū)崿F(xiàn)資源共享、優(yōu)勢互補。
會議首先由雙方代表介紹了基本情況及合作內(nèi)容,王海林與唐環(huán)共同簽署了聯(lián)合創(chuàng)新中心共建協(xié)議以及成果轉(zhuǎn)化協(xié)議。隨后,李宏民與卓玲佳共同為聯(lián)合創(chuàng)新中心揭牌。
在致辭環(huán)節(jié),王自力對聯(lián)合創(chuàng)新中心的成功簽約表示祝賀。他認為聯(lián)合創(chuàng)新中心的研究方向非常有意義,并希望后續(xù)創(chuàng)新中心能與北京航空航天大學加強合作,共同構建“產(chǎn)、學、研”聯(lián)合體。
趙啟亮介紹了蘇州工業(yè)園區(qū)的基本情況,他指出,工業(yè)園區(qū)已經(jīng)斬獲國家級經(jīng)開區(qū)七連冠,具有充足的科研與發(fā)展優(yōu)勢,工業(yè)園區(qū)將大力支持聯(lián)合創(chuàng)新中心的運營發(fā)展。
張杰表示,雙方的“聯(lián)姻”意義重大,是落實國防科工局提出的由“單項技術轉(zhuǎn)化”向“創(chuàng)新平臺轉(zhuǎn)化”發(fā)展的重要舉措,當前國家對于科技創(chuàng)新及成果轉(zhuǎn)化十分關注,希望聯(lián)合創(chuàng)新中心能夠把握政策優(yōu)勢,取得優(yōu)異成績。
未來,聯(lián)合創(chuàng)新中心將圍繞基礎科研、人才培養(yǎng)以及成果轉(zhuǎn)化等方面不斷加強交流,促進第三代半導體可靠性試驗及失效分析技術的工程化應用,更好地履行強軍首責,為加快裝備建設現(xiàn)代化作出更大貢獻。
以上文字內(nèi)容來源于航天201所